製品・サービス製品情報量産ラインにおける検査・計測において、
精度向上と効率化を両立するANALYZERの製品をご紹介します。

内径欠陥検査

ANALYZERⅢ NEO

検査可能な内径目安:Φ7mm~Φ30mm
装置にセットされたANALYZER NEO
内径欠陥検査

ANALYZERⅢ NEO

検査可能な内径目安:Φ7mm~Φ30mm

検査対象穴径がΦ7mm以上の内径検査で検査速度および最小検出サイズを高めた最上位モデルです。より厳しい条件を要求される量産ラインに対応するため検査精度・検査スピード・耐久性・ロバスト性を高めた内径検査装置です。

Solutionこのような課題を解決します

  • 人件費の削減ができます。
  • 数値基準のため品質が安定します。
  • 過剰品質による過剰NG品を防ぐことが可能です。
  • 圧倒的な検査時間の短縮で業務の効率化が可能です。

Specification製品仕様

ANALYZER NEOの単品写真

装置仕様

型式 SG-LSDC-6-203-18K-NEO
方式 光学スキャニング方式
光源 赤色半導体レーザー(波長640nm 最大40mW)
レーザークラス クラス3B
検出成分 直接光
対象口径 Φ7mm~
回転数 18,000rpm
有効測定長 200mm
最小検出サイズ 0.2mm
検査速度の目安 約3.3秒 ※測定長100mm、分解能0.1mmの場合
サンプリング周波数 ~2,400kHz
電源 100、200V

概略図面

ANALYZER NEOの図面

Feature製品特徴

非破壊/非接触でワーク内径を高速にスキャンし欠陥を検査します。

最小検出サイズ0.1mm(従来比2倍)で、微細な欠陥の検査に適しています。

18000rpm(従来比1.2倍)で高速な検査を行います。

Price価格

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