製品・サービス製品情報量産ラインにおける検査・計測において、
精度向上と効率化を両立するANALYZERの製品をご紹介します。

外径欠陥検査

ANALYZER LSGD(外径用)

装置にセットされたANALYZER LSGD(外径用)
外径欠陥検査

ANALYZER LSGD(外径用)

ワークを回転させ、ワーク外壁を検査するモデルです。
量産ラインに対応するため検査精度・検査スピード・耐久性・ロバスト性を高めた外径検査装置です。

装置にセットされたANALYZER LSGD(外径用)

Solutionこのような課題を解決します

  • 人件費の削減ができます。
  • 数値基準のため品質が安定します。
  • 過剰品質による過剰NG品を防ぐことが可能です。
  • 圧倒的な検査時間の短縮で業務の効率化が可能です。

Specification製品仕様

ANALYZER LSGD(外径用)の単品写真

装置仕様

型式 SG-LSGD
方式 光学スキャニング方式
光源 赤色半導体レーザー(波長640nm 最大10mW)
レーザークラス クラス3B
検出成分 直接光
対象口径 制限なし(装置限界に依存する)
回転数 制限なし(装置限界に依存する)
有効測定長 制限なし(装置限界に依存する)
最小検出サイズ 0.2mm
検査速度の目安 制限なし(装置限界に依存する)
サンプリング周波数 ~2,400kHz
電源 100、200V

概略図面

ANALYZER LSGD(外径用)の図面

Feature製品特徴

非破壊/非接触でワーク外径をスキャンし欠陥を検査します。

ワークを回転させることができれば、径や長さの制約はありません。

Price価格

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