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ANALYZER NEO

ANALYZER NEO

SG-LSDCプロープのレーザーと回転を改良したモデルです。回転数は18,000rpmにスピードアップ。最小検出サイズは0.1mmでより高精度になりました。

型式 SG-LSDC-6-203
方式 光学スキャニング方式
光源 赤色半導体レーザー
(波長640nm~660nm 最大40mW)
レーザークラス クラス2 ~ 3B
検出成分 直接光
対象口径 φ8mm~
回転数 18,000rpm(従来比20%up)
有効測定長 200mm
サンプリング周波数 2400kHz(従来比340%up)
検出サイズ 0.1mm(従来比200%up)
電源 100, 200V

ANALYZER(極細タイプ)

ANALYZER(極細タイプ)

高速かつ安定して検査ができる穴ライザーに、極細タイプのモデルが加わりました。目視では検査が非常に難しい細い加工穴やネジ穴の検査に有効です。

型式 SG-LSDC-2.3-50
方式 光学スキャニング方式
光源 赤色半導体レーザー
(波長670nm 最大40mW)
レーザークラス クラス2 ~ 3B
検出成分 直接光
対象口径 φ4mm~
回転数 10,000rpm
有効測定長 50mm
サンプリング周波数 ~800kH
電源 100, 200V

ANALYZER(外径タイプ)

ANALYZER(外径タイプ)

ワークを立てて固定したまま、円筒外周を検査可能にしたモデルです。
従来のワーク回転タイプに比べ、大幅な時間短縮が可能です。

型式 SG-LSRA
方式 光学スキャニング方式
光源 赤色半導体レーザー
(波長635nm~670nm 最大40mW)
レーザークラス クラス2 ~ 3B
検出成分 直接光
対象口径 φ20~30mm
回転数 15,000rpm
有効測定長 ~L40mm
サンプリング周波数 ~800kHz
電源 100, 200V

内径用(SG-LSNB

内径用(SG-LSNB)

ワークを回転させるため、Φ20mm以上で一定の距離を保つことができれば、ワーク径に制限がありません。

型式 SG-LSNB
方式 光学スキャニング方式
光源 赤色半導体レーザー
(波長635nm~670nm 最大40mW)
レーザークラス クラス2 ~ 3B
検出成分 回折光、直接光
対象口径 φ20mm~
回転数 制限なし
有効測定長 制限なし
サンプリング周波数 ~180kHz
電源 100V

ANALYZER SP

ANALYZER SP

SG-LSDCプローブを装置にビルドインした専用検査装置です。
シリーズ第1弾は、自働化の検査ニーズが多いワーク「バルブボディ」に特化した装置になっています。プローブはXY軸、ワークはZR軸の合計4軸でポジショニング・動作させることができます。ワークの着座治具さえ変えれば、すぐにラインに投入できる仕様となっています。

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